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簡要描述：小型風冷式高低溫沖擊試驗箱是主要做沖擊試驗的，就是一個箱子里面有兩個區(qū)域，一個給預冷一個給預熱，等到測試得時間就把預冷好溫度或預熱區(qū)的溫度放出來，他的是功能高溫轉至低溫之間可以在很快時間內(nèi)沖擊完成試驗。
產(chǎn)品型號AP-CJ廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家更新時間2024-11-10訪 問 量2647產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,石油,建材/家具,電子/電池 |
小型風冷式高低溫沖擊試驗箱適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，太陽能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機，汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設定恒溫或者沖擊試驗。
| 制冷低溫區(qū) | 溫度暴露范圍 | 0℃/-65℃ | ||
| 預熱溫度下限 | -75℃ | |||
| 溫度波動范圍 | ≤±0.5℃ | |||
| 溫度降溫時間 | -75℃≤60min | |||
| 加熱高溫區(qū) | 溫度暴露范圍 | 60℃~150℃ | ||
| 預熱溫度上限 | 200℃ | |||
| 溫度波動范圍 | ≤±0.5℃ | |||
| 溫度上升時間 | 室溫200℃≥45min | |||
| 性能指標 | 溫度測試范圍可選 | A:-40℃～150℃ B:-40℃～150℃C:-65℃～150℃ | ||
| 溫度均勻動 | 高溫室及低溫室均≤±2℃ | |||
| 樣品區(qū)承重 | 30kg | 30kg | 30kg | |
| 溫度運行控制系統(tǒng) | 主要控制器 | //中國臺灣(可選擇）進口LED數(shù)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦集成控制器 | ||
| 精度范圍 | 設定浮動度：溫度±0.2℃，指示精度：溫度±0.1℃，分辨率：0.01℃ | |||
| 制冷系統(tǒng) | 進口半封閉水冷式壓縮機組或原裝“泰康”/全封閉風冷壓縮制冷機組 | |||
| 循環(huán)系統(tǒng) | 耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風輪 | |||
| 溫度轉換時間 | 從制冷低溫區(qū)到加熱高溫區(qū)或從加熱高溫區(qū)到制冷低溫區(qū)≤10S | |||
| 溫度恢復時間 | ≤5min(恢復時間與暴露溫差、冷卻水溫、恒溫時間、樣品重量有關) | |||
本設備滿足：
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫；
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫；
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件；
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件；
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件；
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則；
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備。
用途：
小型風冷式高低溫沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具。
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